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什么是離子遷移現(xiàn)象？
形成枝晶是電極間短路的現(xiàn)象。
離子遷移現(xiàn)象的特征：
●會在良好的絕緣的狀態(tài)下突然發(fā)生。
●短路的瞬間，因為自身電流的能量（焦耳熱），枝晶被燒損，然后恢復(fù)絕緣電阻。
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所以很容易變成瞬間的絕緣劣化現(xiàn)象。
離子遷移的信賴性試驗的作用：
●在某些領(lǐng)域是重大故障
●即便是瞬間的短路現(xiàn)象，在現(xiàn)在高速數(shù)字化處理電路中誘發(fā)錯誤動作，在某些情況，有發(fā)展成為重大故障的風(fēng)險。
試驗方法是否有效？
現(xiàn)廣泛被使用的槽外計測，離子遷移現(xiàn)象是檢測不出的。所以，NG的測試樣品也直接被認(rèn)定OK了。
市面上的遷移試驗裝置是否都能進(jìn)行準(zhǔn)確檢測？
離子遷移是瞬間現(xiàn)象。即便是持續(xù)的監(jiān)視試驗裝置，通道掃描或數(shù)據(jù)處理需要一定時間，正確地捕捉現(xiàn)象進(jìn)行適當(dāng)?shù)奶幚砭妥兊煤茈y。
作為試驗裝置的重要事項
●有能力準(zhǔn)確檢測出發(fā)生枝晶的瞬間短路現(xiàn)象。
●在多個樣品同時測試中，什么時候哪個樣品發(fā)生離子遷移，都可以檢測到。
●為了預(yù)防枝晶燒損，顯微鏡觀察時等的證據(jù)可以查看。
高速抽樣處理
●J-RAS是業(yè)界最高速，16msec（62.5S/s）。
●能夠進(jìn)行離子遷移的瞬間現(xiàn)象捕捉。
●不只是單一的短路現(xiàn)象事件，而是作為電阻值的連續(xù)數(shù)據(jù)被記錄。
因離子遷移現(xiàn)象導(dǎo)致的電阻值變化如以下情況：
高速抽樣處理的情況：
抽樣處理慢的情況：
高速與普通處理，檢測結(jié)果有很大偏差：
全部通道同時抽樣處理：
●J-RAS是所有通道的數(shù)據(jù)同時抽樣處理。
●假如離子遷移現(xiàn)象同時多個通道發(fā)生，數(shù)據(jù)也不會漏掉。更準(zhǔn)確高效得檢測樣品。
多個通道同時發(fā)生離子遷移現(xiàn)象的情況如下：
單一AD掃描的話，與通道數(shù)成反比例，發(fā)生通道數(shù)越多越不準(zhǔn)確。
每個通道都分別配有AD，可以同時監(jiān)測所有通道。
J-RAS的模擬電路能夠防止枝晶燒損
●設(shè)備配有電流限制電路，即便枝晶短路，也不會給樣品輸入超范圍的電力。
●高速16msec的抽樣處理，及時檢出電阻值低下，把模擬電路的偏壓輸出功率及時停止。（根據(jù)判定條件設(shè)定）
高速、多通道同時抽樣，J-RAS能夠大量數(shù)據(jù)并行處理。
簡而言之，J-RAS設(shè)備的高速、多通道并行處理，能夠更可靠的檢測出遷移現(xiàn)象。
